【対面コース/オンラインコース開催】★新入社員研修★品質管理担当者研修★に最適●●不具合発生から逆引きで対応ノウハウを実学で学ぶ
KISTEC教育講座「不具合原因の分析と対応力向上セミナー」【対面コース/オンデマンドコース】
 オーバービュー
日時 2024年6月3日 9:00(月)~ 2024年7月2日 17:00(火)(30日間)
申込期日 2024年6月28日(金)17:00   期日にご注意ください
場所 かながわサイエンスパーク
神奈川県川崎市高津区坂戸3-2-1
Online オンラインで参加できます
登録 事前登録が必要です 申し込む(外部サイト)
参加費 35,000円
主催神奈川県立産業技術総合研究所
 内容

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  【オンデマンドコース/対面コース】     
       「不具合原因の分析と対応力向上セミナー」

 【オンデマンド】
  配 信: 6月3日(月)~7月2日(火)
  場 所: オンライン会場
  参 加: 14,000円(税込)

 【対面】
  日 時: 6月20日(木)、6月21日(金)
  場 所: かながわサイエンスパーク内
  参 加: 35,000円(税込)
  
  主 催: 神奈川県立産業技術総合研究所

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○お申し込み:
  下記URLからお申し込みください。
  https://www.kistec.jp/learn/fuguai-kaiseki/

○プログラム:
【オンデマンドコース】 配信期間:6月3日(月)~7月2日(火)
 
 ◇  動画(計13本/約6時間)
 |  ストリーミング型配信(期間中何度でも視聴可能)
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 ◇  個別質問タイム
 |  事前予約制
 |  職場の方の同席可能。分析のご相談も承ります。
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【対面コース】 開催日:6月20日(木)~6月21日(金)
 
 ◇  不具合・故障解析を進めるための基本
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 ◇  解析事例の紹介
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 ◇  分析装置の実演と解説(少人数制)
 |   ・光学顕微鏡 
 |   ・走査電子顕微鏡(SEM)
 |   ・フーリエ変換赤外分光高度計(FT-IR)
 |   ・微小部蛍光X分析装置(XRF)
 |   ・走査型X線光電子分光分析装置(μ-XPS)
 |   ・ラボツアー(上記以外の装置等紹介)
 |  *実際の装置で解析に携わる職員が実演を交えて解説
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○お問い合わせ先:

  地方独立行政法人神奈川県立産業技術総合研究所
  人材育成部 教育研修グループ
  メールアドレス: manabi@kistec.jp
  電話: 044-819-2033


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 関連資料
 主催者
主催神奈川県立産業技術総合研究所