【対面コース/オンラインコース開催】★新入社員研修★品質管理担当者研修★に最適●●不具合発生から逆引きで対応ノウハウを実学で学ぶ
KISTEC教育講座「不具合原因の分析と対応力向上セミナー」【対面コース/オンデマンドコース】
オーバービュー |
日時 |
2024年6月3日 9:00(月)~ 2024年7月2日 17:00(火)(30日間) 申込期日 2024年6月28日(金)17:00 期日にご注意ください |
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場所 |
かながわサイエンスパーク
神奈川県川崎市高津区坂戸3-2-1
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Online | オンラインで参加できます | |
登録 | 事前登録が必要です 申し込む(外部サイト) | |
参加費 | 35,000円 | |
主催 | 神奈川県立産業技術総合研究所 |
内容 |
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【オンデマンドコース/対面コース】
「不具合原因の分析と対応力向上セミナー」
【オンデマンド】
配 信: 6月3日(月)~7月2日(火)
場 所: オンライン会場
参 加: 14,000円(税込)
【対面】
日 時: 6月20日(木)、6月21日(金)
場 所: かながわサイエンスパーク内
参 加: 35,000円(税込)
主 催: 神奈川県立産業技術総合研究所
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○お申し込み:
下記URLからお申し込みください。
https://www.kistec.jp/learn/fuguai-kaiseki/
○プログラム:
【オンデマンドコース】 配信期間:6月3日(月)~7月2日(火)
◇ 動画(計13本/約6時間)
| ストリーミング型配信(期間中何度でも視聴可能)
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◇ 個別質問タイム
| 事前予約制
| 職場の方の同席可能。分析のご相談も承ります。
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【対面コース】 開催日:6月20日(木)~6月21日(金)
◇ 不具合・故障解析を進めるための基本
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◇ 解析事例の紹介
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◇ 分析装置の実演と解説(少人数制)
| ・光学顕微鏡
| ・走査電子顕微鏡(SEM)
| ・フーリエ変換赤外分光高度計(FT-IR)
| ・微小部蛍光X分析装置(XRF)
| ・走査型X線光電子分光分析装置(μ-XPS)
| ・ラボツアー(上記以外の装置等紹介)
| *実際の装置で解析に携わる職員が実演を交えて解説
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○お問い合わせ先:
地方独立行政法人神奈川県立産業技術総合研究所
人材育成部 教育研修グループ
メールアドレス: manabi@kistec.jp
電話: 044-819-2033
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関連資料 |
主催者 |
主催 | 神奈川県立産業技術総合研究所 |